INFLUENCE OF SULFURIZATION ON THE PROPERTIES OF Cu2ZnSnS4 (CZTS) THIN FILMS PREPARED BY A TWO-STAGE PROCESS
Clicks: 325
ID: 5671
2019
Article Quality & Performance Metrics
Overall Quality
Not rated
Combines reader engagement with the AI quality analysis. This
article has not been analysed, so there is no overall score —
reader engagement is measured and shown alongside.
Reader Engagement
Steady Performance
71.0
/100
325 views
232 readers
Trending
AI Quality Assessment
Not analyzed
Readership in this journal
SteadyRanked #18 of 135 articles by views in Ömer halisdemir Üniversitesi mühendislik bilimleri dergisi
Most read
Least read
Bar heights use a square-root scale. Only the 120 most-read articles are drawn; the journal has 135 in total.
Mint this article as an NFT
Not yet mintedCreate a permanent, verifiable on-chain record of this article on the Scimatic Network. The NFT is held in your Journament account, and you can withdraw it to your own wallet at any time.
5
SUSD
one-off · no wallet required
Abstract
Bu çalışmada CZTS ince filmler; Cu, Zn ve Sn metalik katmanların saçtırma yöntemi ile Cu/Sn/Zn/Cu yapılarının cam üzerine kaplanması ve bu yapıların 540 ve 580 °C sıcaklıkta 1 ve 5 dakika sürelerince sulfur atmosferinde sülfürlenmesi şeklinde iki-aşamalı metot kullanılarak büyütülmüştür. Değişik sıcaklık ve sürelerde sülfürlenen örnekler XRD, SEM, EDX, Raman spektroskopisi, Optik spektroskopi ve Van der Pauw yöntemleri kullanılarak karakterize edilmiştir. Tabakalı metalik yapı (Cu/Sn/Zn/Cu) ve CZTS örneklerinin Cu-zengini ve Zn-fakiri kompozisyona sahip olduğu gözlemlendi. Üretilen CZTS ince filmlerin XRD verileri incelediğinde, çok az Cu 2-x S fazı dışında neredeyse saf CZTS yapısına sahip kırınım deseni gösterdiği görülmüştür. Raman spektroskopisi kullanılarak CZTS fazının oluştuğu teyit edilmiştir. SEM görüntüleri incelendiğinde, CZTS540-1 örneğinin daha kompakt, yoğun ve homojen bir yapıya sahip olduğu gözlemlenmiştir. Elde edilen optik yasak enerji aralıklarının literatür ile uyum içinde olduğu görülmüştür. Elektriksel ölçümler, CZTS540-1 ince filminin en yüksek taşıyıcı yoğunluğuna ve en düşük özdirenç değerlerine sahip olduğunu göstermiştir.
| Reference Key |
mehmet2019influencemer
Use this key to autocite in the manuscript while using
SciMatic Manuscript Manager or Thesis Manager
|
|---|---|
| Authors | Mehmet Ali OLĞAR and |
| Journal | Ömer halisdemir Üniversitesi mühendislik bilimleri dergisi |
| Year | 2019 |
| DOI |
10.28948/ngumuh.598096
|
| URL | |
| Keywords |
Citations
No citations found. To add a citation, contact the admin at info@scimatic.org
Comments
No comments yet. Be the first to comment on this article.